Неразрушающий контроль качества и предсказание надежности интегральных микросхем по электрическим шумам и параметрам нелинейности
Описание
Дан обзор различных видов электрических шумов в твердых телах применительно к металлическим пленкам, контактам и транзисторам субмикронных размеров.
Автор: Г.П.Жигальский
Информация о файле
| Вуз | Московский институт электронной техники |
| Размер файла | 314.03 КБ |
| Автор(ы) | |
| Группа | |
| Преподаватель | |
| Скачан | 13 |
| Добавлен | 17 Марта 2010 |
Содержимое архива
- RadEl5_05ZhigalskiiLO.pdf