Физика твердого тела
МИЭТ
Определение ширины запрещенной зоны полупроводниковых из измерений температурной зависимости электропроводности
МИЭТ
Определение структуры кристаллов с помощью дифракции рентгеновских лучей
МИЭТ
Определение характеристик структуры металл- полупроводниковых с помощью вольтфарадного метода
МИЭТ
Определение времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках
МИЭТ
Измерение удельного сопротивления полупроводниковых пластин четырехзондовым методом
МИЭТ
Определение времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости точечного p+n перехода
МИЭТ
Бесконтактный метод измерения удельного сопротивления полупроводников
МИЭТ
Автор: К.В. ШАалимова
Рассмотрены модельные представления о механизме электропроводимости, даны основы зонной теории полупроводников и теории колебаний решетки